Разделы
Рекомендуем
|
Автоматическая электрика Прессование многослойных схем ИСПЫТАНИЯ ПЕРЕД СБОРКОЙ Надежность работы блока - результат надежности каждого элемента этого блока. Например: если печатная схема имеет десять сопротивлений и вероятность, что все десять исправны на 98%, эта же печатная схема имеет десять конденсаторов и вероятность, что все они исправны на 90%, и вероятность исправности панели до установки на ней блока - 99%, и исправность работы блока гарантируется на 95% времени, тогда общая надежность блока на печатных схемах равна произведению вероятностей (0,98 X О, 9 X X 0,99 X 0,95 = 82,9%). Если надежность сопротивлений снижается до 50%, тогда общая надежность становится 0,5 X 0,9 х 0,99 X X 0,95 = 42,3%. Отсюда видно, как важно не допустить использования неисправных элементов при сборке блока. 3. Проверка компонентов при их получении Компоненты, используемые в блоках на печатных схемах, обычно проходят выборочные испытания по графику, который гарантирует качество. График составляется на основе прогноза уровня качества данной группы по результатам испытаний случайного образца, взятого из этой группы. Первоначальный график выборочных испытаний может быть заменен выдачей групповых сертификатов. При таком методе испытания будет выборочно проверена одна группа из пяти. Если испытания проходят успешно, то принимаются все пять групп. Такой метод может привести к снижению стоимости испытаний, обеспечивая тот жесамый уровень качества. Оборудование, используемое при этом типе испытаний, должно быть точным и универсальным и должно включать некоторые средства для фиксирования результатов испыгания. Конечно, вид проводимых испытаний будет диктоваться типом компонентов и их назначением. В табл. 16.5 приведены испытания, проводимые при получении транзисторов. Печатная плата должна пройти испыгания до установки на ней компонентов. 4. Контроль компонентов в процессе сборки Этому испытанию подвергаются компоненты, которые до установления их в блок были подвергнуты воздействию (изменена их форма). Оборудование для этого типа испытания обычно простое и недорогое. Оно становится неотъемлемой частью линии сборки. При испытаниях используются следующие виды оборудования: 1. Устройство для проверки транзисторов или диодов (полупроводниковые приборы). 2. Устройство для обнаружения правильности коммутации проводников, для проверки короткого замыкания и проверки правильности соединения разъема с соответствующими проводниками. 3. Устройство, используемое для определения сохранения изоляционных свойств печатной схемы на различных этапах процесса. Испытания транзисторов при входном контроле Обозначение Испытание Iqek - ток запирания, обратное смещение эмиттер - коллектор, обратное подключение базы; Iqeo - ток запирания, обратное смещение эмиттер - коллектор, база разомкнута; ВУдЕО - пробивное напряжение, обратное смещение коллектор- эмиттер, база разомкнута; Ve (sat) - напряжение насыщения база - эмиттер, установленные значения токов Iq и VcE (sat) - напряжение насыщения коллектор - эмиттер, установленные значения токов и 1; fe - статическое отношение прямых токов для схемы с общим эмиттером; оп - время включения; tff - время выключения; CE:(lif test) - ток запирания, измеряемый периодически в течение 1000 час выдержки на старение в термошкафу. 5. Выборочный или партионный контроль При изготовлении большой партии печатных схем одного типа проверка осуществляется выборочным методом. Этот метод проверки весьма перспективен. Задача этого метода заключается в выявлении любых недостатков и неустойчивости в процессе до производства большой группы. Это осуществляется путем анализа брака выбранной группы, прошедшей через стадии испытания, в процессе сборки Позиция I Полупоо8од\ lPuSop никоВые иля {проверк-и р-л-перехода компоненты Брак Печатные платы Период бремени Прибор для прозвонка печатных цепей Брак Образец Позиция и Установка ком-понентовУ на плату Позиция Ш Позиция IV Основная партия Образец Основная партия Образец Основная партия Образец ОсчсВная партия Рис. 16.4. Схема испытаний в процессе изготовления. И окончательной стадии испытания. На рис. 16.4 представлен этот процесс.
|
© 2010 KinteRun.ru автоматическая электрика
Копирование материалов разрешено при наличии активной ссылки. |